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材料研究方法
0.1 基础概念
0.1 基础概念
像散
分辨率
卢瑟福散射
埃瓦尔德球
常用仪器分析比较
强度
成像方法
汤姆逊公式
洛伦兹力
球差
电场力
色差
衍射和艾里斑
衬度
0.2 晶体学
晶系和布拉维点阵
布拉维点阵
晶系
立方
0.2 晶体学
倒易空间
四指数
对称性
晶体的定义与特征
晶向
晶面
点阵
素胞
1 X-ray Diffraction
衍射方法
劳厄衍射法
德拜衍射（粉末衍射）法
衍射方法
转动晶体法
X-ray Diffraction (XRD)
XRD 测多晶残余应力
X射线产生和辐射类型
X射线特性
X射线的吸收
劳厄方程
布拉格定律
德拜衍射的相对强度
消光
莫塞莱定律
衍射强度
2 TEM & SEM
电子与物质的相互作用
二次电子
俄歇电子
吸收电子
散射电子
特征X射线
电子与物质的相互作用
背散射电子
透射电子
电子衍射
偏移矢量
单晶电子衍射花样判定
复杂衍射花样判定
晶带轴
电子衍射
电子衍射基本公式
选区电子衍射
SEM 信号来源
SEM 分辨率
SEM 衬度
SEM
TEM 成像
TEM
位错密度
双束条件
弱束暗场像
弱束暗场像观察位错
电子在和电场磁场中的运动
电子基本性质
电磁透镜
衍射动力学
🔬 材料研究方法
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位错密度
在
TEM 成像
中，我们可以通过
弱束暗场像观察位错
在计算位错密度时，对成像图像画几条直线，计算交点个数，使用以下公式：
ρ
=
N
L
t
